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Parmi 鐳射掃描方式的優(yōu)點

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Parmi 鐳射掃描方式的優(yōu)點

發(fā)布日期:2022-03-02 作者: 點擊:

  1. 不受顏色,材質(zhì)和表面亮度的影響
    PARMI的鐳射掃描方式是將鐳射集中在均勻的線條上(Line Beam),測量物體的中心值,因此不論顏色,材質(zhì),表面亮度,都可以準確的獲取高度信息

    20220302161842.png

  2. 利用MPC(Multi Profile Correlation)呈現(xiàn)Laser Profile的3D成像
    PARMI研發(fā)了獨一無二的Laser Profiling技術,通過精確獲取基準面而計算出物體的準確高度

    20220302162034.png

  3. 通過實時Z軸補償功能,可完美對應PCB彎曲
    為了對應PCB彎曲問題,在業(yè)界首次應用了實時Z軸控制功能
    使用了同行業(yè)中最輕便的檢測相機(3.5kg),優(yōu)化了Z軸控制
    th_008_cn.png

  4. 利用對高物體進行多重掃描(Multi-Step Scan)功能,呈現(xiàn)3D圖像
    利用Z軸功能解決了高度5mm以上元器件出現(xiàn)圖像模糊的問題
    20220302162223.png

  5. 100%解決陰影問題
    利用小角度雙鐳射,將陰影問題最小化
    20220302162303.png

  6. Soldering后根據(jù)環(huán)境產(chǎn)生的圖像失真問題
    PARMI的TRSC檢測相機在高溫下曝光時間短
    Soldering后,在高溫下檢測,沒有圖像失真問題
    不受外界光源影響
    20220302162342.png

  7. 鐳射掃描方式的檢測原理
    找出鐳射光線的中心,并計算高度,呈現(xiàn)3D圖像
    根據(jù)物體的高度,所投射的鐳射線位置會發(fā)生差異
    20220302162443.png

本文網(wǎng)址:http:///news/558.html

關鍵詞:AOI鐳射,SPI鐳射,錫膏檢測技術

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